TEM-Querschnittsanalyse
Die Querschnitts-Transmissionselektronenmikroskopie (Querschnitts-TEM) ist eine Methode zur Gewinnung hochauflösender Bilder von Querschnitten größerer Materialien. Der Bereich von Interesse wird aus einer größeren Probe ausgewählt, mittels einer Technik wie FIB präpariert und mit TEM abgebildet. Die Methode wird in der Materialwissenschaft und Nanotechnologie weit verbreitet eingesetzt.

Einige unserer TEM-Dienstleistungen
HR-TEM-Bildgebung
STEM-EDX
Teilchengrößenverteilung mittels TEM
Negativfärbung-TEM oder Kryo-TEM für liposomale Pulver
Preise ohne MwSt.
Wofür wird Querschnitts-TEM verwendet?
Ein Transmissionselektronenmikroskop (TEM) erzeugt mit einem hochenergetischen Elektronenstrahl hochauflösende Bilder von Proben, die dünner als 100 nm sind. Die Verfahren zur Vorbereitung solch dünner Proben können komplex sein. Manchmal befindet sich der für die Abbildung gewünschte Bereich auch im Inneren der Probe, beispielsweise wenn die Grenzfläche zwischen Schichten in Dünnschichtmaterialien untersucht wird. In solchen Fällen muss vor der Abbildung ein Querschnitt der Probe präpariert werden.
Querschnitts-TEM wird in der Materialwissenschaft, Zellbiologie und Nanotechnologie häufig eingesetzt, um die inneren Strukturen von Materialien abzubilden, die andernfalls zu groß für TEM sind. Eine gängige Anwendung ist die Bestimmung der Dicke und Gleichmäßigkeit von Dünnschichten.
Methoden der Querschnittspräparation
Es gibt zwei Hauptmethoden zur Herstellung einer Querschnittsprobe für die TEM: Mikrotomie und Ionenstrahlschneiden.
Ein Mikrotom verwendet Klingen, um die Probe in 60-100 nm dicke Schnitte zu zerteilen. Die Klingen bestehen aus Glas, Stahl oder Diamant. Mikrotome können zur Probenvorbereitung von Knochen, Mineralien und polymeren Materialien wie Kunststoffen eingesetzt werden. Manchmal werden Proben vor der Mikrotomie in Epoxidharz eingebettet.
Ein fokussierter Ionenstrahl (FIB) ist eine Nanobearbeitungstechnik, bei der ein hochenergetischer Ionenstrahl verwendet wird, um die Querschnittsprobe aus einem größeren Objekt herauszufräsen. Ein dualer Ionenstrahl wird verwendet, um ein Stück der Originalprobe herauszuschneiden. Dieses Stück wird dann mit einem Träger entfernt und zur Ausdünnung mit dem Ionenstrahl montiert, um die erforderliche Dicke zu erreichen.
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Passende Probenmatrizen
- Materialien, die für ein normales TEM zu groß sind.
- Duennschichten
- Halbleiter
- Metalle
- Knochen
- Gewebeproben
Ideale Anwendungen der Querschnitts-TEM
- Querschnittsbildgebung von Halbleitern.
- Bildgebung von Dünnschichten.
- Hochauflösende Bildgebung zur Fehleranalyse.
- Charakterisierung von Nanopartikeln.
- Halbleiterforschung.
- Fehleranalyse in Materialuntersuchungen.
- Analysen von mehrschichtigen Dünnmaterialien.
- Zellbildgebung in der Knochenforschung.
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Häufig gestellte Fragen
Wenn sich der Bereich von Interesse im Inneren der Probe befindet oder die Probe für die TEM-Abbildung zu groß ist, kommt die Querschnitts-TEM zur Anwendung. Die TEM erzeugt hochauflösende 2D-Bilder.
Einige Materialien können für die Präparation der Querschnitte zu spröde sein. Die Querschnittspräparation ist zudem grundsätzlich destruktiv und sollte daher erst nach Anwendung relevanter zerstörungsfreier Prüfverfahren wie Mikro-CT durchgeführt werden.
Mit der Querschnitts-TEM kann eine sehr breite Palette von Materialien untersucht werden. Hochauflösende Bilder können von Gesteinen und Mineralien, Knochen, Metallen, Dünnschichten und Halbleitermaterialien erzeugt werden.
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