Synchrotron-Röntgendiffraktometrie – Quantitative Analyse
Diese Analyse liefert quantitative Informationen über die kristallinen und amorphen Phasen in Ihrer Probe unter Verwendung der hochauflösenden Synchrotron-Röntgendiffraktometrie (XRD).
Eine Standardanalyse umfasst:
Quantifizierung kristalliner Phasen als Gewichtsprozentsätze
Quantifizierung des gesamten amorphen Anteils
Hochauflösende Pulverdiffraktionsdaten und das daraus resultierende Diffraktogramm
Ein umfassender Testbericht mit detaillierter Darstellung der Befunde
Für weitergehende Anforderungen bieten wir zudem eine Total-Scattering-/Paarverteilungsfunktions-(PDF-)Analyse an, um die lokale atomare Struktur in amorphen oder nanostrukturierten Materialien zu untersuchen. Zögern Sie nicht, ein Angebot anzufordern.
Weitere Informationen zur Methode:
Röntgenbeugung (XRD)- Geeignete Probenmatrizen
- Pulver, polykristalline oder amorphe Feststoffe, hoch formbare oder weiche Feststoffe, z. B. Gele, Wachse, Pasten, Cremes und Schäume. Für flüssige Proben kontaktieren Sie uns bitte.
- Benötigt Anzahl Proben
- 100 mg
- Übliche Bearbeitungszeit
- 3 – 4 Wochen nach Eingang der Probe
- Nachweisgrenze
- 0,1–0,001 Gew.-%
- Verfügbare Qualitätssysteme
- Measurlabs validierte Methode
- Messgeräte
- Methodenexperte
Preis
Wir berechnen außerdem eine 97 € Servicegebühr pro Auftrag.
Bei großen Chargen von Proben sind Rabatte möglich.
Fragen? Wir helfen Ihnen gerne.
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