Synchrotron-Röntgendiffraktometrie – Quantitative Analyse

Diese Analyse liefert quantitative Informationen über die kristallinen und amorphen Phasen in Ihrer Probe unter Verwendung der hochauflösenden Synchrotron-Röntgendiffraktometrie (XRD).

Eine Standardanalyse umfasst:

  • Quantifizierung kristalliner Phasen als Gewichtsprozentsätze

  • Quantifizierung des gesamten amorphen Anteils

  • Hochauflösende Pulverdiffraktionsdaten und das daraus resultierende Diffraktogramm

  • Ein umfassender Testbericht mit detaillierter Darstellung der Befunde

Für weitergehende Anforderungen bieten wir zudem eine Total-Scattering-/Paarverteilungsfunktions-(PDF-)Analyse an, um die lokale atomare Struktur in amorphen oder nanostrukturierten Materialien zu untersuchen. Zögern Sie nicht, ein Angebot anzufordern.

Geeignete Probenmatrizen
Pulver, polykristalline oder amorphe Feststoffe, hoch formbare oder weiche Feststoffe, z. B. Gele, Wachse, Pasten, Cremes und Schäume. Für flüssige Proben kontaktieren Sie uns bitte.
Benötigt Anzahl Proben
100 mg
Übliche Bearbeitungszeit
3 – 4 Wochen nach Eingang der Probe
Nachweisgrenze
0,1–0,001 Gew.-%
Verfügbare Qualitätssysteme
Measurlabs validierte Methode
Messgeräte

Preis

Typische Preisspanne (Ohne MwSt.):
179–545 €pro Probe

Wir berechnen außerdem eine 97 € Servicegebühr pro Auftrag.

Bei großen Chargen von Proben sind Rabatte möglich.

Fragen? Wir helfen Ihnen gerne.

Fragen? Wir helfen Ihnen gerne.

Ringing phone
Kone logoNeste logoFermion logoPlanmeca logoSulapac logoOkmetic logo

Fragen Sie nach einem Angebot

Füllen Sie das Formular aus und wir antworten Ihnen innerhalb eines Werktages.

Haben Sie Fragen oder brauchen Hilfe? Schreiben Sie uns unter oder rufen Sie unser Vertriebsteam an.