Rasterelektronenmikroskopie
Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist eine präzise und schnelle Technik zur Untersuchung der mikroskopischen Strukturen und Topologie einer Materialoberfläche. REM hat zahlreiche Anwendungen in Forschung und Produktentwicklung, wie beispielsweise die Abbildung der Oberflächenmorphologie von Partikeln und Beschichtungen. Aufgrund ihrer Flexibilität kann die REM-Analyse zur Lösung einer Vielzahl von Problemen im Produktionsprozess eingesetzt werden.

Einige unserer REM-Dienstleistungen
REM-EDX-Bildgebung
REM-Bildgebung
Analyse der Partikelgrößenverteilung gemäß EG-Empfehlungen
Partikelgrößenverteilung mit REM
Asbest in Materialproben (Spielzeug, Bauprodukte usw.)
Kristallstrukturanalyse mit EBSD
Inhalierbarer und respirabler Staub in Innenraumluft nach EN 481 und ISO 7708
Kryo-REM-EDX-Bildgebung
Preise ohne MwSt.
Wofür wird die REM-Analyse verwendet?
Mit dem REM können die detaillierten Oberflächenstrukturen der Probe mit hoher Genauigkeit sichtbar gemacht werden, wodurch ein präzises Bild ihrer Oberflächenmorphologie und sogar Topographie erhalten werden kann. Einige Rasterelektronenmikroskope können eine Auflösung von weniger als 1 nm erreichen, obwohl eine Auflösung von etwa 1 bis 20 nm üblicher ist.
REM-Bildgebung kann zur Identifizierung von Produktfehlern und Unvollkommenheiten in verschiedenen Arten von trockenen Feststoffen verwendet werden, einschließlich dünner Filme, Beschichtungen und Baumaterialien. REM kann auch zur Analyse von Pulvern und anderen partikulären Materialien eingesetzt werden und kann die Partikelgrößenverteilung von nicht-sphärischen Partikeln wie Stäbchen und Fasern liefern, die mit herkömmlichen Methoden schwierig zu analysieren sind.
Wie funktioniert die Rasterelektronenmikroskopie?
Bei der REM wird die Oberfläche der Probe systematisch mit einem Elektronenstrahl abgetastet. Elektronen werden aus einer Elektronenquelle beschleunigt und durch mehrere elektromagnetische Linsen und Blenden geleitet, bevor sie auf die Probe treffen. Die Elektronen interagieren mit der Probenoberfläche und erzeugen verschiedene Signale, wenn sie von ihrer ursprünglichen Richtung abgelenkt werden. Nach der Interaktion werden die Elektronen von einem Elektronendetektor erfasst, und die Informationen werden von einem mit dem Detektor verbundenen Computer in ein Bild umgewandelt.

Zusätzliche Detektoren
Es gibt viele verschiedene REM-Aufbauten, zusätzliche Detektoren und Techniken für unterschiedliche Anforderungen. REM kann mit EDX (energiedispersive Röntgenspektroskopie) kombiniert werden, um REM-EDX-Analysen durchzuführen. Mit dieser Methodenkombination ist es möglich, zusätzlich zu den Oberflächenstrukturen die Elementzusammensetzung der Probe zu bestimmen. Eine weitere mögliche Ergänzung ist der Elektronenrückstreubeugungsdetektor (EBSD), mit dem die Mikrostruktur kristalliner Proben visualisiert werden kann.
Geeignete Proben
Proben, die im REM verwendet werden, müssen trocken sein, und ihre Oberflächen müssen Elektrizität leiten. Ist dies nicht der Fall (beispielsweise bei biologischen Proben), müssen sie vor der REM-Untersuchung vorbehandelt werden. Üblicherweise müssen Proben, die keine Elektrizität leiten, mit einem leitfähigen Material beschichtet werden. Geeignete Beschichtungen umfassen Platin, Gold, Palladium und Kohlenstoff.
REM im Vergleich zu traditioneller Mikroskopie
Die Auflösung eines mit einem Mikroskop aufgenommenen Bildes – das heißt, der kürzeste mögliche Abstand zwischen zwei verschiedenen Objekten, bei dem die Objekte noch voneinander unterschieden werden können – hängt von der Wellenlänge der elektromagnetischen Strahlung (beispielsweise Licht) ab.
Da Elektronen eine kürzere Wellenlänge als Photonen haben, können Elektronen anstelle von Licht verwendet werden, um eine höhere Auflösung zu erzielen. Daher können die kleinsten Details der Probe mit einem Elektronenmikroskop genauer betrachtet werden als mit einem herkömmlichen optischen Mikroskop. Wenn eine noch höhere Auflösung benötigt wird, kann die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) verwendet werden.
Benötigen Sie eine Analyse?
Measurlabs bietet Labortests mit REM für verschiedene Branchen und analytische Zwecke an. Zu den beliebten Anwendungen gehören Fehleranalyse von Halbleitern, Asbestprüfung von Spielzeug und die Bestimmung, ob Lebensmittel Nanopartikel enthalten, aber dies sind nur Beispiele. Für Dutzende bis Hunderte von Proben stellen wir sicher, dass Ihre Analysen termingerecht und mit höchster Genauigkeit durchgeführt werden. Kontaktieren Sie uns über das untenstehende Formular, um ein individuelles Angebot zu erhalten.
Passende Probenmatrizen
- Feste Proben
- Pulver
- Metalle
- Polymere
Ideale Anwendungsmöglichkeiten der REM
- Produktentwicklung und Qualitätskontrolle, zum Beispiel Ausfallanalysen
- Materialuntersuchung, beispielsweise Beobachtung und Messung der feinen, detaillierten Strukturen der Materialoberfläche sowie Analyse der Bruchmechanismen
- Untersuchung komplexer Umwelt- und biologischer Proben zur Bestimmung der mikroskopischen Struktur ihrer Oberflächen
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Häufig gestellte Fragen
Die Rasterelektronenmikroskopie wird häufig verwendet, um feste Oberflächen auf Risse oder Verunreinigungen zu untersuchen, Nanopartikel in Lebensmittelproben nachzuweisen und die Dicke von halbleitenden Dünnschichten zu analysieren. Die REM kann auch für die Partikelgrößenverteilungsanalyse eingesetzt werden, wobei der Vorteil in der Fähigkeit liegt, sowohl die Partikelform als auch die Größe zu erfassen.
Bei der REM-EDX-Methode wird ein EDX-Detektor (auch EDS genannt) an ein Standard-REM-Gerät angeschlossen. REM-EDX kann zur Identifizierung von Elementen sowie zur Bestimmung ihrer Verteilung und Konzentration in der Probe verwendet werden. Wenn Elektronen mit der Oberfläche der Probe interagieren, veranlassen sie die Probe zur Erzeugung von Röntgenstrahlen, die mit einem EDX-Detektor erfasst werden können. Da jedes Element sein eigenes charakteristisches Röntgenspektrum besitzt, können die Elemente und Verbindungen in der Probe zusammen mit ihren Konzentrationen mittels REM-EDX ermittelt werden.
Zusätzlich zur EDX kann ein Röntgendetektor (XRF) in Verbindung mit der REM Elemente anhand ihrer Röntgenspektren bis auf den nächsten Mikrometer identifizieren.
Mit der REM können nur die Oberflächenstrukturen der Probe untersucht werden. Durch Querschnitte der Probe können zwar die inneren Strukturen sichtbar gemacht werden, wenn jedoch die Probe und ihre inneren Teile unversehrt und unbeschädigt bleiben sollen, ist diese Methode keine Option. In solchen Fällen sind eventuell zerstörungsfreie Alternativen wie Mikro-CT-Bildgebung vorzuziehen.
Wenn die Probe für das Mikroskop zu groß ist, muss sie möglicherweise vor der Analyse geschnitten werden. Dies erfolgt häufig mittels fokussierter Ionenstrahltechnologie. Wenn die Probe verschmutzt, feucht oder nicht elektrisch leitfähig ist, sind in der Regel andere Probenvorbereitungstechniken erforderlich.
Die auf der Oberfläche der Probe vorhandenen Elemente können nicht allein mit REM identifiziert werden. Stattdessen sind REM-EDX und XRF geeignete Methoden für diesen Zweck.
Für die REM-Analyse sind feste Proben geeignet. Damit die meisten REM-Techniken funktionieren, müssen die Proben trocken sein und ihre Oberflächen müssen elektrisch leitfähig sein. Wenn die Probe diese Anforderungen nicht erfüllt, muss sie vor der Bildgebung vorbehandelt werden.
Measurlabs offers a variety of laboratory analyses for product developers and quality managers. We perform some of the analyses in our own lab, but mostly we outsource them to carefully selected partner laboratories. This way we can send each sample to the lab that is best suited for the purpose, and offer high-quality analyses with more than a thousand different methods to our clients.
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Samples are usually delivered to our laboratory via courier. Contact us for further details before sending samples.