Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)

TEM ermöglicht Abbildungen auf atomarer Ebene in komplexen Anwendungen der Nanotechnologie und Materialwissenschaft. Measurlabs bietet fortschrittliche Elektronenmikroskopietechniken, von Kryo-TEM bis HR-TEM-EDX, zur Charakterisierung von Nanopartikeln, Dünnschicht und mikroelektronischen Bauteilen.
TEM-Querschnittsbild eines dünnen Films
Kone logoNeste logoFermion logoPlanmeca logoSulapac logoOkmetic logo
TEM-Einwand-Kohlenstoffnanoroehren

Unsere TEM-Dienstleistungen

Aufgrund ihrer hohen Auflösung eignet sich die TEM-Bildgebung ideal zur Identifizierung von Merkmalen und Defekten im Nanometer- und Sub-Nanometer-Bereich. Wir bieten mehrere Varianten der Technik an:

Dies sind lediglich einige Beispiele für unsere Kompetenzen. Wenden Sie sich bitte an unsere Fachleute, um weitere Informationen zu unserem Leistungsspektrum zu erhalten.

Messung im Querschnitts-TEM

Typische technische Spezifikationen

Measurlabs bietet TEM-Dienstleistungen mit den folgenden technischen Spezifikationen und Probenanforderungen:

  • Bildgebung mit einer räumlichen Auflösung bis zu 0,3 nm

  • Über 50-millionenfache maximale Vergrößerung

  • Erfordert ultradünne Proben (< 100 nm dick), die typischerweise mittels Focused-Ion-Beam(FIB-)Präparation oder Mikrotomie hergestellt werden

  • Elektronenstrahlenergien im Bereich von 80–300 keV ermöglichen eine tiefe Eindringtiefe des Strahls und einen hohen Kontrast bei der Abbildung innerer Strukturen

  • Kompatibel mit analytischen Modi wie energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX) und Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS) für simultane Bildgebung und Elementar-/Chemieanalyse

Kalle Niiranen
Fragen?

Technischer Vertriebsleiter Kalle Niiranen gibt Ihnen gerne weitere Informationen zu unseren Dienstleistungen.

Ein Partner für alle Ihre Anforderungen an die Materialcharakterisierung

Neben der TEM bieten wir ein umfassendes Spektrum analytischer Techniken zur Materialcharakterisierung:

  • REM-, AFM- und C-SAM-Bildgebung

  • Elementaranalyse der Oberfläche und Tiefenprofilierung mit Techniken wie VPD ICP-MS, XPS, ToF-ERDA, SIMS und GD-OES.

  • Röntgentechniken für die Strukturanalyse, einschließlich XRR und GI-XRD

Wenn Sie Prüfdienstleistungen bei uns beauftragen, erhalten Sie Unterstützung von qualifizierten Prüfexperten, die die volle Verantwortung für Ihre aktuellen und zukünftigen Prüfprojekte übernehmen.

Um zu sehen, wie führende Unternehmen der Dünnschicht- und Halbleiterindustrie von unseren Dienstleistungen profitiert haben, lesen Sie die folgenden Fallstudien:

Warum Measurlabs wählen?

Größte Bandbreite an Testmethoden – Lassen Sie alle Ihre Tests an einem Ort durchführen.

Beste Labore – Für jeden Test haben wir das beste Labor für die jeweilige Methode ausgewählt, sodass Sie die genauesten Ergebnisse zum besten Preis erhalten.

Persönlicher Service – Erhalten Sie Hilfe von unseren Methodenexperten hinsichtlich der Standards, Ihren Testanforderungen oder der Eignung Ihrer Proben, sollten Sie sich unsicher sein.

Angebot anfordern

Füllen Sie das Formular aus und wir antworten Ihnen innerhalb eines Werktages.

Haben Sie Fragen oder brauchen Hilfe? Schreiben Sie uns unter oder rufen Sie unser Vertriebsteam an.