Optische Mikroskopie

Während dieser Analyse wird die Oberfläche einer glatten und harten Probe mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM) abgebildet. Topografische Bilder werden in der Regel von drei Positionen um die Probe herum aufgenommen. Der Messbereich beträgt 5 × 5 Mikrometer, sofern nichts anderes vereinbart wurde. Messungen werden typischerweise mit folgendem Instrument durchgeführt: Bruker Dimension Icon.

Qualitative Identifizierung von Asbest in Feststoffen mittels Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (REM-EDX). Die Analyse wird gemäß der Norm ISO 22262-1 durchgeführt. Das Verfahren wird häufig eingesetzt, um festzustellen, ob Spielmaterialien wie Spielsand, Kinetiksand oder polymer- und mineralbasierte Füllstoffe Asbest enthalten. Bauprodukte wie Zement, Asphalt und Wärmedämmstoffe stellen eine weitere häufig untersuchte Probenmatrix dar. Während der Analyse wird die Probe verascht, gemahlen und mittels REM-EDX untersucht, um faserige Asbeststrukturen zu identifizieren. Die Analyse umfasst die folgenden Asbestarten: Aktinolith, Amosit (brauner Asbest) , Anthophyllit, Chrysotil (Weißasbest) , Krokydolith (Blauasbest) , Tremolit. Eine Expressbearbeitung (4 Werktage) kann auf Anfrage gegen Aufpreis bereitgestellt werden. Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen.

Zerstörungsfreie 3D-Analyse interner Strukturen mittels Röntgen-Computertomographie. Das Verfahren visualisiert Poren, Risse, Dichte- und Phasenunterschiede innerhalb fester Materialien. Die Analyse ist geeignet für pulverförmige Materialien, wie beispielsweise pharmazeutische und kosmetische Inhaltsstoffe, sowie für Schüttgüter und Bauteile, etwa Maschinenteile und Wafer. Die Voxelgröße kann bis auf 60 nm reduziert werden. Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen zu den Analyseoptionen für verschiedene Materialien und Materialabmessungen. Für die Analyse stehen unter anderem folgende Geräte zur Verfügung: Bruker SkyScan 1272 CMOS, Bruker SkyScan 2214 CMOS, Zeiss Xradia 515 Versa.

Die Partikelgrößenverteilung (PSD) und die Form der Partikel werden mittels Bildanalyse bestimmt. Die Methode ist für Partikel mit einer Größe von 10 bis 3.000 µm geeignet. Die Bildanalyse charakterisiert Partikelformen wie Fasern, Stäbchen und Kristalle, die mit herkömmlichen Verfahren wie der Laserbeugung oder der Dynamischen Lichtstreuung nicht sinnvoll analysiert werden können. Abhängig von der Partikelform umfassen die Ergebnisse typischerweise die Größenverteilung für Länge, Breite und den Äquivalent-Kreisflächen-Durchmesser (ECA).

Die folgenden Analysen sind in diesem Nanopartikel-Analysenpaket enthalten, das zur Charakterisierung von Nanoformen gemäß der REACH-Verordnung vorgesehen ist. Partikelgrößenverteilung und Aspektverhältnisse mittels REM-EDX Vorbereitung mit Isopropanol, Probenverteilung auf einem Objektträger mit Zentrifugation, REM-Analyse und Partikelzählung mittels Bildanalyse, Nachweis und Klassifizierung von Nanopartikeln gemäß der Empfehlung der EU-Kommission von 2022 zur Definition von Nanomaterial, Bericht der Partikelgrößenverteilungsparameter (PSD) für etwa 300 Partikel, einschließlich der folgenden: KFK-Diagramm, kumulativ und individuell., Feret min (min, d10, d25, d50, d75, d90, d95, max), Feret max (min, d10, d25, d50, d75, d90, d95, max), Äquivalenter Kreisdurchmesser (min, d10, d25, d50, d75, d90, d95, max), Seitenverhältnis (Berechnung basierend auf den einzelnen Feret-min- und Feret-max-Messungen), Anzahlbasierte Nano-Fraktion (%).. Kristallphasenanalyse mittels XRD/Rietveld-Methode Probenvorbereitung: Trocknung, Vermahlung, Röntgenpräparation, Röntgendiffraktionsanalyse (XRD) über einen Winkelbereich von 10° bis 90°, Identifizierung der in der Probe vorhandenen kristallinen Phasen, Semiquantitative Analyse der Phasenverteilung mittels Rietveld-Methode, Auswertung von Diffraktogrammen. Chemische Zusammensetzung/Reinheit mittels ICP-AES- und CHNS-Analyse ICP-AES-Quantifizierung anorganischer und metallischer Elemente: Ag, Al, As, B, Ba, Be, Bi, Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, K, Li, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, P, Pb, S, Se, Sb, Si, Sn, Sr, V, Zn, Ti und Tl, Bestimmung von C, H, N und S mit einem Elementar-Analysator. Berechnung der volumenspezifischen Oberfläche (VSSA) und des VSSA-Durchmessers (optional) Messung der BET-spezifischen Oberfläche von Pulvern durch Stickstoffadsorption, Bestimmung der wahren (Skelett-)Dichte mittels He-Pyknometrie, ohne Berücksichtigung der intergranularen und intragranularen Porosität, Beide Analysen umfassen die Probenvorbereitung. Sie können ein Angebot für die Analyse über das untenstehende Formular anfordern. Bitte beachten Sie, dass die OECD-Leitlinie 125 für diese Analyse nicht gilt.

Broad Ion Beam (BIB)-Probenpräparation ermöglicht die Herstellung von Oberflächen oder Querschnitten, die sich ideal für die Abbildung mit Rasterelektronenmikroskopie (REM) eignen. Dieses Verfahren nutzt einen fokussierten, hochenergetischen Ionenstrahl, um das Probenmaterial präzise zu ätzen oder abzutragen und dadurch Schäden an der Oberflächenstruktur auf ein Minimum zu reduzieren. Typische Anwendungsfälle Anfertigung von Querschliffen für REM zur Analyse von Dünnfilmen, Beschichtungen und Schichtstrukturen., Präparation von Proben für die REM-Bildgebung von Defekten, Korngrenzen oder Grenzflächen in Hochleistungswerkstoffen.. Geeignete Proben Dünne Schichten, die auf verschiedene Substrate, wie z. B. Si-Wafer, abgeschieden werden und Dicken von einigen Dutzend Nanometern bis zu mehreren Mikrometern aufweisen., Schüttgüter, einschließlich Metalle, Keramiken, Polymerwerkstoffe und Verbundwerkstoffe., Proben, die eine präzise Strukturanalyse erfordern, ohne thermische oder mechanische Schädigungen zu verursachen.. Einschränkungen Nicht geeignet für Materialien mit extremer Empfindlichkeit gegenüber Ionenbeschuss., Eingeschränkte Anwendbarkeit bei sehr großen Proben aufgrund gerätebedingter Begrenzungen., Potenzial für geringfügige ioneninduzierte Veränderungen in ultrasensitiven Materialien.. Verwandte Techniken Für die ortsspezifische Ausdünnung oder Präparation von Proben für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) wird die Focused-Ion-Beam- (FIB)Probenpräparation eingesetzt., Das Gefrierbruchverfahren kann bei dünnen organischen Proben häufig anstelle von BIB eingesetzt werden, um Kosten zu sparen..

Elektronenrückstreubeugung (EBSD) ist eine REM-basierte Technik, die zur Bestimmung der kristallographischen Orientierung, Phase und Korngrenzenstruktur kristalliner Materialien eingesetzt wird. Das Verfahren wird typischerweise für die Fehleranalyse und die Mikrostrukturanalyse von Metallen, Keramiken und Legierungen eingesetzt. Probenanforderungen: EBSD eignet sich für flache, polierte kristalline Proben, einschließlich Metallen, Keramiken und Dünnschichten (50–500 nm). Für grobe Proben bieten wir eine Politur an. Nichtleitende Proben können eine leitfähige Beschichtung erfordern.

Abbildung der Probe mittels Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) und Bestimmung der elementaren Zusammensetzung der Probe mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX oder EDS). Mehrere Aufnahmen mit unterschiedlichen Vergrößerungen werden angefertigt, um einen guten Überblick über die Probe zu erhalten. Eine EDX-Elementkartierung, Linienanalyse oder Punktmessung wird durchgeführt, um die Probenzusammensetzung zu bestimmen (Elementverteilung in At.-% oder Gew.-%). Für feste Proben erfordert die Analyse häufig eine FIB-Präparation, die gesondert berechnet wird. HR-TEM kann ebenfalls durchgeführt werden. Kontaktieren Sie uns für weitere Details zu den Analyseoptionen.

Hochauflösende Abbildung mit einem Transmissionselektronenmikroskop (TEM) zur Erfassung von Morphologie, Kristallstruktur und Defekten mit Nanometerauflösung. In der Regel werden mehrere Aufnahmen mit unterschiedlichen Vergrößerungen angefertigt, um einen guten Überblick über die Probe zu erhalten. Wir bieten außerdem FIB-Präparation an, um den Querschnitt jeder beliebigen interessierenden Stelle zu analysieren, einschließlich mikroelektronischer Schichtstapel und loser Pulver. HR-TEM für atomare Auflösung, STEM für hochkontrastreiche Aufnahmen und Kryo-TEM für empfindliche Proben sind ebenfalls möglich. Für ergänzende Zusammensetzungsanalysen neben den Strukturdaten stehen TEM-EDX- und TEM-EELS-Elementaranalysen zur Verfügung. Kontaktieren Sie uns für weitere Details.

Die Focused-Ion-Beam-(FIB-)Technik wird zur Präparation von Proben für die Elektronenmikroskopie eingesetzt. Sie ermöglicht ein sehr präzises Schneiden von Proben, um sie mittels TEM- oder REM-Bildgebung zu untersuchen. Gerne erstellen wir ein Angebot für die alleinige FIB-Präparation oder auch für FIB-TEM- oder FIB-REM-Analysen.