TEM-Analyse
Die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) nutzt einen Elektronenstrahl zur Erzeugung hochauflösender Bilder von Objekten – einschließlich ihrer internen Strukturen – im Nanomaßstab. Die TEM-Analyse wird in zahlreichen Branchen eingesetzt, darunter Materialwissenschaften, Mikrobiologie und Nanotechnologie.

Eine Auswahl unserer TEM-Dienstleistungen
HR-TEM-Bildgebung
STEM-EDX
Teilchengrößenverteilung mittels TEM
Negativfärbung-TEM oder Kryo-TEM für liposomale Pulver
Preise ohne MwSt.
Passende Probenmatrizen
- Materialien im Nanobereich
- Nanopartikel
- Viren und Mikroorganismen
- Teile von Halbleitern
- Kohlenstoffnanoröhren, Graphene und andere Kohlenstoffnanomaterialien
- Dünnschichtbeschichtungen
- Cellulose-Nanofasern
Ideale Anwendungen der TEM-Analyse
- Fehleranalyse in der Elektronikfertigung
- Bildgebung in der Materialwissenschaft
- Untersuchung der inneren Strukturen von Mikroorganismen und Viren auf ultrastruktureller Ebene
- Bestimmung von Partikelform und -größe von Nanopartikeln
- Bestimmung der Position von Katalysatorpartikeln im Traeger
- Bildgebung von Zellulose-Nanofasern
- Bildgebung von Kohlenstoffnanoröhren, Graphen und anderen Kohlenstoffnanomaterialien
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Häufig gestellte Fragen
TEM wird hauptsächlich in den Bereichen Elektronik und Nanotechnologie eingesetzt, kann aber auch in der mikrobiologischen Forschung verwendet werden.
TEM erzeugt hochauflösende Bilder, die in der Qualitätskontrolle und Fehleranalyse eingesetzt werden können. In Kombination mit EELS oder EDX können auch Informationen über die Elementzusammensetzung der abgebildeten Probe gewonnen werden.
Einige Materialien können dem hochenergetischen Elektronenstrahl, der in der TEM verwendet wird, nicht standhalten. Diese empfindlichen Materialien können jedoch mittels Kryo-TEM analysiert werden, wobei die Probe vor der Analyse sofort eingefroren wird.
Der TEM-Strahl durchdringt nur Proben mit Dicken von weniger als 100 nm. Dies erfordert, dass dickere Proben mit Techniken wie Mikrotomie oder Ionenfräsen geschnitten werden, wodurch TEM zu einer destruktiven Methode wird. Zerstörungsfreie Alternativen in der Halbleiter-Fehleranalyse umfassen Mikro-CT und Rasterakustikmikroskopie (SAM).
Measurlabs offers a variety of laboratory analyses for product developers and quality managers. We perform some of the analyses in our own lab, but mostly we outsource them to carefully selected partner laboratories. This way we can send each sample to the lab that is best suited for the purpose, and offer high-quality analyses with more than a thousand different methods to our clients.
When you contact us through our contact form or by email, one of our specialists will take ownership of your case and answer your query. You get an offer with all the necessary details about the analysis, and can send your samples to the indicated address. We will then take care of sending your samples to the correct laboratories and write a clear report on the results for you.
Samples are usually delivered to our laboratory via courier. Contact us for further details before sending samples.