Vibrationstest gemäß IEC 60068-2-64

Das Verfahren dient dazu, die Fähigkeit von Geräten und Baugruppen zu bestimmen, mäßig starken Stößen zu widerstehen. Die Prüfbedingungen simulieren reale Einsatzszenarien, in denen das Gerät plötzlichen, kräftigen Erschütterungen ausgesetzt sein kann. Dies ist eine zerstörende Prüfung zur Gerätequalifizierung, die gemäß JESD22-B110B durchgeführt wird. Beispielhafte Prüfbedingungen: Pulsform: Sägezahnkurve, Beschleunigung: 100 g, Dauer: 2 ms, Das Gerät wird entlang von drei Achsen geprüft und für jede geprüfte Achse jeweils einem Stoß in positiver und negativer Richtung ausgesetzt., Servicebedingung C.

Die Prüfungen werden gemäß den Normen IEC 60068-2-1 (Kälte) bzw. IEC 60068-2-2 (Wärme) durchgeführt, die Verfahren zur Bewertung der Beständigkeit von Komponenten, Geräten oder Produkten gegenüber Kälte- und Trockenwärmeumgebungen festlegen. Der Geltungsbereich dieser Normen ist auf statische Temperaturbedingungen während Lagerung, Transport oder Verwendung beschränkt. Zur Beurteilung der Reaktion eines Produkts auf Temperaturänderungen ist die Norm IEC 60068-2-14 anzuwenden. Beispielhafte Prüfbedingungen: Temperatur = -40 °C oder +45 °C, Zeit = 400 Minuten.

Nano-Kratztest von Dünnschichtproben. Die typische Messung umfasst ein Übersichtsbild der Kratzspur (Oberflächenschädigung) und die Bestimmung kritischer Lastwerte.

Die Norm IEC 60068-2-6 legt ein Verfahren zur Beurteilung der Fähigkeit von Bauteilen, Geräten und anderen Produkten fest, festgelegten Schweregraden sinusförmiger Schwingungen zu widerstehen. Der Prüfprozess umfasst die Vorbereitung und Montage der Probe in einer ihrer realen Anwendungssituation entsprechenden Weise, die Einrichtung des Schwingprüfsystems, das in der Regel einen Schwingtisch umfasst, die Durchführung einer vordefinierten Prüfsequenz sowie die Überwachung des Schwingungsantwortverhaltens und des kritischen Verhaltens der Probe. Beispielhafte Testbedingungen: Beschleunigung: 5G (Spitze), Frequenz: 5 Hz bis 2.000 Hz, Messung über 3 Achsen, 10 Sweeps/Achse.

Die Röntgenreflektometrie (XRR) wird zur Bestimmung der Dichte (g/cm3), der Schichtdicke (nm) und der Rauheit (nm) von Dünnschichten eingesetzt. Das Verfahren ist zur Charakterisierung ein- oder mehrschichtiger Dünnfilme geeignet, da es Informationen über die Dicke und Dichte der einzelnen Schichten des Probenmaterials sowie über die Rauigkeit der Grenzflächen liefert. Die höchste Genauigkeit bei XRR-Dickenmessungen wird im Allgemeinen bei Proben mit 1–200 nm dicken Oberflächenschichten und einer RMS-Rauheit von unter 5 nm erzielt. Dickere Schichten und Beschichtungen mit stärker aufgerauten Oberflächen können ebenfalls charakterisiert werden, jedoch nimmt die Genauigkeit der Dickenbestimmung mit zunehmender Schichtdicke und Rauheit der Schicht bzw. des Schichtstapels ab. >150-mm-Wafer werden in der Regel zugeschnitten, um in den Probenhalter zu passen. Bitte teilen Sie uns mit, wenn Sie Prüfungen für größere Wafer benötigen, die nicht in Stücke geschnitten werden können. Der verfügbare Temperaturbereich für XRR-Messungen liegt bei 25–1100 °C, und die Kristallinität kann in Abhängigkeit von der Temperatur untersucht werden. Die Messungen können unter Normalatmosphäre, in inerter Gasatmosphäre oder im Vakuum durchgeführt werden. Messungen werden in der Regel mit einem der folgenden Instrumente durchgeführt: Rigaku SmartLab, Panalytical X'Pert Pro MRD, Bruker D8 Discover. Bitte teilen Sie uns mit, ob Sie eine Präferenz für ein bestimmtes Instrument haben.

Dieser Test wird verwendet, um die Falzfestigkeit von Papier oder Karton mit den Prüfvorrichtungen nach Köhler-Molin, Lhomargy, MIT und Schopper zu bestimmen. Während der Prüfung wird ein schmaler Papierstreifen in standardisierter Weise vor- und zurückgefaltet, sodass er einer Längsbeanspruchung ausgesetzt ist, bis er bricht.

Während dieser Analyse wird die Oberfläche einer glatten und harten Probe mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM) abgebildet. Topografische Bilder werden in der Regel von drei Positionen um die Probe herum aufgenommen. Der Messbereich beträgt 5 × 5 Mikrometer, sofern nichts anderes vereinbart wurde. Messungen werden typischerweise mit folgendem Instrument durchgeführt: Bruker Dimension Icon.

Ein Dilatometer wird verwendet, um die lineare thermische Ausdehnung eines Materials in Abhängigkeit von der Temperatur zu bestimmen. Der Temperaturbereich der Messung liegt im Allgemeinen zwischen 25 °C und 1.600 °C. Es besteht außerdem die Möglichkeit, die Prüfung in einer kryogenen Atmosphäre durchzuführen, die sich von −175 °C bis 300 °C erstreckt. Die typische Heizrate beträgt 3 °C/min. Als Ergebnis der Messung erhalten Sie den Wärmeausdehnungskoeffizienten (CTE) und die absolute Längenänderung der Probe, jeweils in Abhängigkeit von der Temperatur. Die Prüfung kann in verschiedenen Atmosphären durchgeführt werden, darunter Luft, Argon, CO₂, N₂ und O₂. Bitte kontaktieren Sie uns, um ein Angebot zu erhalten. Der Preis hängt von den Prüfbedingungen ab, daher geben Sie diese bitte so genau wie möglich an.

Die Spreading-Resistance-Profilsierung ist eine kontaktbasierte elektrische Messmethode, mit der die Resistivität und die Ladungsträgerkonzentration in Abhängigkeit von der Tiefe in siliziumsubstratbasierten Halbleiterproben bestimmt werden. Dies ermöglicht die präzise Lokalisierung von p-n-Übergängen und die Überprüfung von Dotierungsprofilen für einzelne Bauelementschichten in z. B. bipolaren Transistoren und CMOS-Bauelementen. Die Probe wird in einem flachen Winkel (0,5–5°) abgeschrägt, um die Tiefenskala zu vergrößern, und zwei Hartmetall-Tungstenkarbidsonden werden unter kontrolliertem Druck schrittweise entlang der abgeschrägten Oberfläche geführt. Der gemessene Spreizwiderstand wird über Kalibrierkurven in die Ladungsträgerkonzentration umgerechnet, und die Ergebnisse werden als Diagramme des elektrischen Widerstands (Ω), des spezifischen Widerstands (Ω∙cm) und der Ladungsträgerkonzentration (cm⁻³) in Abhängigkeit von der Tiefe (nm oder µm) dargestellt. Der angezeigte Beispielpreis umfasst die Fasenpräparation und die SRP-Messung einer nicht strukturierten Probe. Strukturierte Proben können ebenfalls analysiert werden; zusätzliche Probenpräparation (z. B. Lift-off von Oberflächenschichten) ist auf Anfrage verfügbar. Die Messung kann zudem mit anderen Dienstleistungen kombiniert werden, einschließlich der Bestimmung der Kristallorientierung mittels XRD und der Analyse chemischer Konzentrationen mit SIMS. Bitte verwenden Sie das untenstehende Formular, um ein Angebot für Ihr Analyseprojekt anzufordern.

Wir bieten verschiedene Prüfdienstleistungen für Reinstwasser an. Die Preise hängen von den ausgewählten Parametern und der Anzahl der Proben ab. Bitte kontaktieren Sie Measurlabs, um ein Angebot zu erhalten. Bitte beachten Sie, dass wir geeignete Versandbehälter entsprechend den beauftragten Analysen bereitstellen. Spurenelemente mittels ICP-MS Für die Bestimmung von elementaren Verunreinigungen bieten wir ein Basispaket mit 36 Elementen sowie ein erweitertes Paket mit 67 Elementen an. Das Basispaket umfasst die folgenden 36 Elemente: Li, Be, B, Na, Mg, Al, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Ge, As, Sr, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba, Ta, W, Pt, Au, Tl, Pb und Bi. Die erweiterte Analyse umfasst die folgenden Elemente zusätzlich zum Basispaket: Ce, Cs, Dy, Er, Eu, Gd, Hf, Ho, In, Ir, La, Lu, Hg, Nd, Os, Pd, Pr, Re, Rh, Rb, Ru, Sm, Sc, Se, Te, Tb, Th, Tm, U, Yb und Y. Die Berichtsgrenzen hängen vom jeweiligen Element und der spezifischen Probenmatrix ab, liegen jedoch typischerweise zwischen 0,001 ppb und 0,6 ppb. Für diese Analyse müssen die Proben in Teflonbehältern angeliefert werden. Härte Der Härtewert kann auf Grundlage der ICP-MS-Ergebnisse berechnet werden. Silizium und Siliziumdioxid (Si, SiO2) Unser Servicekatalog umfasst die Bestimmung von Gesamt‑, gelöstem und kolloidalem Siliziumdioxid (SiO2). Gesamtsilizium wird mit der ICP-OES-Technik analysiert, gelöstes Silizium mittels UV-VIS (Molybdän-Heteropolyblau-Methode). Kolloidales Siliziumdioxid wird als Differenz zwischen Gesamt- und gelöstem Siliziumdioxid berechnet. Gesamter organischer und anorganischer Kohlenstoff (TOC und TIC) Wir bieten TOC-Bestimmungen für Reinstwasserproben mit einer Quantifizierungsgrenze von 5 ppb an. Für diese Analyse müssen die Proben in zertifizierten 40-ml-TOC-Vials angeliefert werden. Die Bestimmung des gesamten anorganischen Kohlenstoffs (TIC) kann ebenfalls mit einem TOC-Analysator durchgeführt werden. Anionen mittels Ionenchromatographie (IC) Für Anionen bieten wir ein Basispaket sowie ein separates Paket für organische Anionen an. Das Basispaket umfasst die folgenden Anionen: Bromid (Br⁻), Chlorid (Cl⁻), Fluorid (F⁻), Nitrat (NO₃⁻), Nitrit (NO₂⁻), Phosphat (PO₄³⁻) und Sulfat (SO₄²⁻). Die Analyse organischer Anionen umfasst: Acetat, Formiat, Glykolat, Propionat und Butyrat. Die Bestimmungsgrenzen sind abhängig vom Anion und der Probenmatrix, liegen für einfache Anionen jedoch typischerweise zwischen 0,02 und 1 ppb und betragen für organische Anionen etwa 25 ppb. Für diese Analyse müssen die Proben in HDPE-Flaschen geliefert werden. Kationen mittels Ionenchromatographie (IC) Das Analysenpaket für Kationen umfasst die Bestimmung der folgenden Kationen: Ammonium (NH4+), Calcium (Ca2+), Lithium (Li+), Magnesium (Mg2+), Kalium (K+) und Natrium (Na+). Bestimmungsgrenzen liegen typischerweise zwischen 2 ppb und 5 ppb. Proben müssen in HDPE-Flaschen angeliefert werden. PFAS-Verbindungen (24 Verbindungen) Die Analyse umfasst PFOS, PFOA, PFNA, PFHxS und 20 weitere ausgewählte PFAS-Verbindungen. Die vollständige Liste der Verbindungen kann auf Anfrage bereitgestellt werden. Die Bestimmungsgrenze beträgt in der Regel 1 ng/L. Die Probe muss in einer kunststoffbasierten, PFAS-freien Flasche, vorzugsweise aus HDPE, angeliefert werden.