ICP-MS-mittaus ohutkalvoista
Metallisten alkuaineiden jäämien määritys piikiekon päällä olevasta ohutkalvosta. Määrityksessä voidaan hyödyntää eri menetelmiä näytteen ominaisuuksista riippuen.
Kysy lisätietoja mittauksen soveltuvuudesta näytteellesi menetelmän asiantuntijalta.
Lisätietoja menetelmäperheestä:
ICP-MS-mittaus (ICP-MS)- Soveltuvat näytematriisit
- Ohutkalvo tai päällyste piikiekon päällä
- Näytteiden minimimäärä
- 1 kokonainen piikiekko
- Tyypillinen läpimenoaika
- 2 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Määritysraja
- Ppm - ppb
- Saatavilla olevat laatujärjestelmät
- Akkreditoitu testauslaboratorio
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
Puolijohteet
Koostumusanalyysi
PintatestausHeräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Ota yhteyttä
Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.
Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia info@measurlabs.com tai soita +358 50 336 6128.