Poikkileikkeen HR-TEM kuvaus + EDX + FIB

ElektronimikroskopiaElektronimikroskopia
AlkuaineanalyysiAlkuaineanalyysi
MateriaalitestausMateriaalitestaus
MikroskopiaMikroskopia
PintatestausPintatestaus

Poikkileikkeen kuvaaminen korkean resoluution läpäisyelektronimikroskoopilla. Lisäksi näytteen alkuainekoostumus tunnistetaan energiadispersiivisellä röntgenspektroskopialla (EDX). Poikkileike valmistetaan kohdennetulla ionisuihkulla (FIB).

Soveltuvat näytematriisit
Monet kovat materiaalit, kuten ohutkalvoilla pinnoitetut piikiekot, lasisubstraatit, metallit ja monet muut.
Näytteiden minimimäärä
Pienetkin kappaleet voidaan valmistaa poikkileikkeiksi ja kuvata TEMillä.
Tyypillinen läpimenoaika
2 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Määritysraja
Resoluutio ulottuu jopa alle nanometriin.
Laatujärjestelmä
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet
TEM
Menetelmän asiantuntija

Hinta

Ensimmäinen näyte

2304

per näyte

Seuraavat näytteet

2004

per näyte

Hinnat ilmoitettu ilman arvonlisäveroa (24 %).

Toimintamallimme

Tilaaminen on helppoa

Tietokonetta käyttävä henkilö
1.Tilaa mittauspalvelu tai kysy neuvoa.
Laatikkoon pakattu lähetys
2.Lähetä näytteesi meille.
Laborantti suorittamassa mittauksia
3.Mittaamme raaka-aineesi tai tuotteesi.
Analyysiraportti kirjekuoren sisällä
4.Saat mittausraportin ja tulokset sähköpostiisi.
Tarjouspyyntö

Ota yhteyttä

Voit myös lähettää sähköpostia info@measurlabs.com tai soittaa meille numeroon +358 40 735 4843.

Vastaamme aina vuorokauden sisällä.