Sekundäärinen ionimassaspektrometria (SIMS)

Sekundäärinen ionimassaspektrometria (SIMS) on menetelmä, jolla saadaan kvantatiivinen syvyysprofiili pinnan alkuaineista. SIMS soveltuu useille eri tyyppisille kiinteille materiaaleille. Tyypillisesti syvyysprofiili voidaan analysoida noin 5 nm:stä 20 µm asti (50–500 µm vaakasuunnassa). SIMS tunnistaa kaikki alkuaineet, joiden massa on vedyn uraanin välissä.

Soveltuvat näytematriisit
Kiinteä
Tyypillinen läpimenoaika
4 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Laatujärjestelmä
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet
Menetelmän asiantuntija
Shima Moosakhani
Shima Moosakhani

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Ringing phone

Tilauksesta tuloksiin neljässä vaiheessa

Tietokonetta käyttävä henkilö
1
Valitse tarvittavat testit
tilausvahvistus
2
Vastaanota tilausvahvistus
Näytelähetys
3
Lähetä näytteesi meille
Henkilö saa sähköpostin puhelimeensa
4
Saat tulokset sähköpostiisi

Ota yhteyttä

Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.

Vastaamme aina yhdessä arkipäivässä.

Voit myös lähettää sähköpostia info@measurlabs.com tai soittaa meille +358 50 336 6128.