Poikkileikkeiden korkean resoluution TEM-kuvaus ja näytteen valmistus FIB:llä

Poikkileikkeiden kuvaaminen korkearesoluutioisella läpäisyelektronimikroskoopilla (HR-TEM). Näyte valmistetaan kohdennetulla ionisuihkulla (FIB).

Soveltuvat näytematriisit
Monet kovat materiaalit, kuten piikiekot, lasisubstraatit, metallit ja monet muut.
Näytteiden minimimäärä
Pienetkin partikkelit soveltuvat poikkileikkeiden tekemiseen ja TEM-kuvaukseen.
Tyypillinen läpimenoaika
4 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Määritysraja
Jopa alle nanometrin resoluutio mahdollinen.
Laatujärjestelmä
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet
Menetelmän asiantuntija
Kia Bertula
Kia Bertula

Kiinnostaako tämä mittaus?

Tämän mittauksen voi ostaa verkkokaupassa. Täytä vain muutama kenttä alla:

1 989 €
Ensimmäinen näyte: 1 989 €
Seuraavat näytteet: 1 689 € per näyte

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Tilaaminen on helppoa

Tietokonetta käyttävä henkilö
1.Tilaa mittauspalvelu tai kysy neuvoa.
Laatikkoon pakattu lähetys
2.Lähetä näytteesi meille.
Laborantti suorittamassa mittauksia
3.Mittaamme raaka-aineesi tai tuotteesi.
Analyysiraportti kirjekuoren sisällä
4.Saat mittausraportin ja tulokset sähköpostiisi.