Poikkileikkeiden korkean resoluution TEM-kuvaus ja näytteen valmistus FIBillä

ElektronimikroskopiaElektronimikroskopia
MikroskopiaMikroskopia
PintatestausPintatestaus

Poikkileikkeiden kuvaaminen korkearesoluutioisella läpäisyelektronimikroskoopilla (HR-TEM). Näyte valmistetaan kohdennetulla ionisuihkulla (FIB).

Soveltuvat näytematriisit
Monet kovat materiaalit, kuten piikiekot, lasisubstraatit, metallit ja monet muut.
Näytteiden minimimäärä
Pienetkin partikkelit soveltuvat poikkileikkeiden tekemiseen ja TEM kuvaukseen.
Tyypillinen läpimenoaika
2 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Määritysraja
Jopa alle nanometrin resoluutio mahdollinen.
Laatujärjestelmä
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet
TEM
Menetelmän asiantuntija

Hinta

Ensimmäinen näyte

1689

per näyte

Seuraavat näytteet

1989

per näyte

Hinnat ilmoitettu ilman arvonlisäveroa (24 %).

Toimintamallimme

Tilaaminen on helppoa

Tietokonetta käyttävä henkilö
1.Tilaa mittauspalvelu tai kysy neuvoa.
Laatikkoon pakattu lähetys
2.Lähetä näytteesi meille.
Laborantti suorittamassa mittauksia
3.Mittaamme raaka-aineesi tai tuotteesi.
Analyysiraportti kirjekuoren sisällä
4.Saat mittausraportin ja tulokset sähköpostiisi.
Tarjouspyyntö

Ota yhteyttä

Voit myös lähettää sähköpostia info@measurlabs.com tai soittaa meille numeroon +358 40 735 4843.

Vastaamme aina vuorokauden sisällä.