Poikkileikkeiden korkean resoluution TEM-kuvaus ja näytteen valmistus FIB:llä

Poikkileikkeiden kuvaaminen korkearesoluutioisella läpäisyelektronimikroskoopilla (HR-TEM). Näyte valmistetaan kohdennetulla ionisuihkulla (FIB). Tuloksena saadaan hyvin tarkkoja kuvia, joista voidaan havaita halkaisijaltaan jopa alle nanometrin kokoisia kohteita.

Soveltuvat näytematriisit
Monet kovat materiaalit, kuten piikiekot, lasisubstraatit, metallit ja monet muut.
Näytteiden minimimäärä
Pienetkin partikkelit soveltuvat poikkileikkeiden tekemiseen ja TEM-kuvaukseen.
Tyypillinen läpimenoaika
4 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Määritysraja
Jopa alle nanometrin resoluutio mahdollinen.
Laatujärjestelmä
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet
Menetelmän asiantuntija
Kia Bertula
Kia Bertula

Tilaa mittaus verkkokaupasta

Ensimmäinen näyte: 2 360 €
Seuraavat näytteet: 2 043 € per näyte
Maksu laskulla

Näytetiedot lisätään ostoskorissa

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Ringing phone

Tilauksesta tuloksiin neljässä vaiheessa

Tietokonetta käyttävä henkilö
1
Valitse tarvittavat testit
tilausvahvistus
2
Vastaanota tilausvahvistus
Näytelähetys
3
Lähetä näytteesi meille
Henkilö saa sähköpostin puhelimeensa
4
Saat tulokset sähköpostiisi