Poikkileike-SEM kohdennetulla ionisäteellä (FIB)

Analyysin aluksi poikkileikenäyte valmistellaan kohdennetulla ionisäteellä (Focused Ion Beam, FIB). Tämän jälkeen poikkileikkeen pinta kuvataan pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM).

Soveltuvat näytematriisit
Kiinteät kalvot, kiinteät palat, ohutkalvot
Tyypillinen läpimenoaika
4 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Laatujärjestelmä
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet
Menetelmän asiantuntija
Kia Bertula
Kia Bertula

Tilaa mittaus verkkokaupasta

Ensimmäinen näyte: 1 197 €
Seuraavat näytteet: 1 083 € per näyte
Maksu laskulla

Näytetiedot lisätään ostoskorissa

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Ringing phone

Tilauksesta tuloksiin neljässä vaiheessa

Tietokonetta käyttävä henkilö
1
Valitse tarvittavat testit
tilausvahvistus
2
Vastaanota tilausvahvistus
Näytelähetys
3
Lähetä näytteesi meille
Henkilö saa sähköpostin puhelimeensa
4
Saat tulokset sähköpostiisi