Poikkileike-SEM kohdennetulla ionisäteellä (FIB)
Analyysin aluksi poikkileikenäyte valmistellaan kohdennetulla ionisäteellä (Focused Ion Beam, FIB). Tämän jälkeen poikkileikkeen pinta kuvataan pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM).
Polymeerit ja muovit
Puolijohteet
Mikroskopia
Partikkelianalyysit
Pintatestaus- Soveltuvat näytematriisit
- Kiinteät kalvot, kiinteät palat, ohutkalvot
- Tyypillinen läpimenoaika
- 4 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Laatujärjestelmä
- Measurlabsin validoima menetelmä
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Tilauksesta tuloksiin neljässä vaiheessa
1
Valitse tarvittavat testit
2
Vastaanota tilausvahvistus
3
Lähetä näytteesi meille
4
Saat tulokset sähköpostiisi