Pintojen skriinaus SEM-kuvantamisella

Pintojen tai laajemman alueen skriinaus pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM). Tämä menetelmä soveltuu näytteille, joista halutaan etsiä jotain (esimerkiksi naarmu, epäpuhtaus jne) mikä todennäköisesti on harvakseltaan tai vain joissakin kohti näytettä (eli saattaa olla haastava löytää isosta näytteestä). Tyypillisesti näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi.

Soveltuvat näytematriisit
Kuivat, kiinteät materiaalit
Näytteiden minimimäärä
Muutama milligramma on riittävä määrä.
Tyypillinen läpimenoaika
3 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Laatujärjestelmä
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet
Menetelmän asiantuntija
Kia Bertula
Kia Bertula

Kiinnostaako tämä mittaus?

Tämän mittauksen voi ostaa verkkokaupassa. Täytä vain muutama kenttä alla:

586 €
Ensimmäinen näyte: 586 €
Seuraavat näytteet: 488 € per näyte

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Ringing phone

Tilauksesta tuloksiin neljässä vaiheessa

Tietokonetta käyttävä henkilö
1
Valitse tarvittavat testit
tilausvahvistus
2
Vastaanota tilausvahvistus
Näytelähetys
3
Lähetä näytteesi meille
Henkilö saa sähköpostin puhelimeensa
4
Saat tulokset sähköpostiisi