Pintojen skriinaus SEM-kuvantamisella

Tässä analyysissa näytteestä skriinataan SEM-laitteella laajempi alue tarkempaa tutkimusta edellyttävän alueen löytämiseksi.

Tarkoituksena on yleensä löytää kohta tai kohtia, joissa esiintyy naarmuja tai epäpuhtauksia. Tällaisten kohtien löytäminen voi olla hankalaa, sillä niitä esiintyy monesti harvakseltaan tai vain joissakin kohti näytettä.

Tyypillisessä SEM-skriinauksessa näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi.

Soveltuvat näytematriisit
Kuivat, kiinteät materiaalit
Näytteiden minimimäärä
Muutama milligramma on riittävä määrä.
Tyypillinen läpimenoaika
2 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
Saatavilla olevat laatujärjestelmät
Measurlabsin validoima menetelmä
Mittauslaitteet

Hinnoittelu ja tilaus

Ensimmäinen näyte (ALV 0):
610 €
Seuraavat näytteet (ALV 0):
520 €per näyte
Suurille näyte-erille tarjoamme alennetun hinnan.

Näytteet syötetään seuraavassa vaiheessa.

Asiantuntijamme tarkastavat kaikki tilaukset ja varmistavat, että testi vastaa tarpeisiisi ja sopii näytteillesi.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.

Ringing phone
...ja yli 600 muuta tyytyväistä asiakasta

Ota yhteyttä

Ota yhteyttä alla olevalla lomakkeella, niin saat tarjouksen testauspalveluista yhdessä arkipäivässä.

Seuraaviin kysymyksiin vastaaminen auttaa meitä laatimaan sinulle tarjouksen nopeammin:

  • Montako näytettä sinulla on ja mitä materiaalia ne ovat?
  • Onko tämä toistuva testaustarve? Jos on, niin kuinka usein näytteitä saapuisi ja monenko näytteen erissä?

Onko sinulla kysymyksiä tai tarvitsetko apua? Lähetä meille sähköpostia tai soita +358 50 336 6128.