Pintojen skriinaus SEM-kuvantamisella
Tässä analyysissa näytteestä skriinataan laajempi alue tarkempaa tutkimusta edellyttävän alueen löytämiseksi. Tarkoituksena on yleensä löytää kohta tai kohtia, joissa esiintyy esim. naarmuja tai epäpuhtauksia. Tällaisten kohtien löytäminen voi olla hankalaa, sillä niitä esiintyy monesti harvakseltaan tai vain joissakin kohti näytettä. Tyypillisessä SEM-skriinauksessa näytteestä otetaan useita kuvia eri suurennoksilla edustavan otoksen saamiseksi.
Lisätietoja menetelmäperheestä:
SEM-analyysi (SEM)- Soveltuvat näytematriisit
- Kuivat, kiinteät materiaalit
- Näytteiden minimimäärä
- Muutama milligramma on riittävä määrä.
- Tyypillinen läpimenoaika
- 3 viikkoa näytteiden vastaanottamisesta
- Laatujärjestelmä
- Measurlabsin validoima menetelmä
- Mittauslaitteet
- Menetelmän asiantuntija
- Kia Bertula
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Heräsikö kysymyksiä? Autamme mielellämme.
Tilauksesta tuloksiin neljässä vaiheessa
1
Valitse tarvittavat testit2
Vastaanota tilausvahvistus3
Lähetä näytteesi meille4
Saat tulokset sähköpostiisi